Testovací patice DS1044-280G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-240G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-200G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-160G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-480G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-400G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-320G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-280G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-240G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP40-15,24 s roztečí mezi řadami 15,24mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP32-15,24 s roztečí mezi řadami 15,24mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP28-15,24 s roztečí mezi řadami 15,24mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP28 s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP24-15,24 s roztečí mezi řadami 15,24mm vhodná pro integrované obvody
Patice precizní DIP24 s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody